학문
Design for Testability 는 어떤 것인지 알고 싶습니다.
안녕하세요? 반도체 분야에 대한 기사를 읽다가 Design for Testability 라는 용어를 봤는데요, 이 용어의 의미와 목적은 무엇인지 알고 싶습니다.
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3개의 답변이 있어요!
안녕하세요. 김재훈 전문가입니다.
Design for Testability(DFT)는 반도체 설계 과정에서 회로의 테스트가 용이하도록 설계하는 방법론을 의미합니다. 반도체 칩이 복잡해짐에 따라 제조 후 결함을 찾는 것이 어려워지기 때문에 DFT는 테스트 과정을 효율적으로 하기 위한 기술을 설계에 포함시킵니다. 이 과정은 생산 후 결함 검출을 쉽게 하고 디버깅 및 수율 개선을 목적으로 합니다. 일반적으로 스캔 체인 내장형 셀프 테스트(BIST) 경로 지연 테스트 등의 기법이 포함되며 이는 반도체 제품의 품질과 신뢰성을 보장하기 위한 필수적인 과정입니다.
안녕하세요. 박재화 박사입니다.
Design for Testability (DFT)는 반도체 소자의 설계 단계에서 테스트를 용이하게 하기 위해 고려되는 설계 기법으로, 제조된 칩이 기능적으로 작동하는지 쉽게 확인할 수 있도록 테스트 비용 절감과 효율성 증가, 결함을 조기에 발견하는데 목적이 있습니다.
안녕하세요. 김경욱 전문가입니다.
DFT는 반도체 회로 설계 시 테스트 용이성을 고려하여 설계하는 접근 방식을 의미합니다. 그목적은 제품이 제조된 후 결함을 쉽게 검출하고 진단할 수 있도록 하여 테스트 비용을 줄이고 생산성을 높이며 신뢰성을 개선하는 것입니다.