재료 분석 장비에 대해 질문드립니다.
안녕하세요.
재료 분석할 때, 흔히 XRD와 SEM을 많이 사용합니다.
이 원리에 대해 조금 딥하게 설명해주실 수 있을까요???
안녕하세요. 김경욱 전문가입니다.
엑스알디는 재료에 엑스 선을 쏴 결정구조에서 회절되는 각도를 측정해 원자 간격과 결정구조를 분석하는 방법입니다. 주사전자현미경은 전자빔을 표면에 주사해 생성된 신호를 통해 표면의 미세 구조와 형상을 고해상도로 관찰합니다. 엑스알디는 주로 결정 구조 분석에 주사전자현미경은 표면 형상과 조성 분석에 유용ㅎ며 두 방법 모두 재료의 특성을 심도 있게 파악할 수 있게 해줍니다.
안녕하세요. 김재훈 전문가입니다.
X선 회절(XRD)과 주사 전자현미경(SEM)은 재료 분석에 널리 사용되는 두 가지 기술로 각각의 원리는 다릅니다. XRD는 재료의 결정 구조를 분석하는 데 사용되며 X선을 시료에 조사했을 때 시료의 원자 구조에 따라 특정 각도로 회절되는 X선의 패턴을 측정합니다. 이 회절 패턴은 결정격자에 대한 정보를 제공하여 시료의 상(phase) 결정 크기 및 격자 매개변수를 분석할 수 있게 해줍니다. 반면, SEM은 시료의 표면 형상과 조성을 고해상도로 관찰하는 기술로 전자 빔을 시료 표면에 조사하여 발생하는 전자를 감지합니다. 이 전자는 시료의 표면 구조와 화학적 조성에 대한 정보를 제공하며, 고배율에서 세부적인 구조를 관찰할 수 있게 해줍니다. 두 기술은 서로 보완적이며, 함께 사용될 때 재료의 미세 구조와 결정 구조를 통합적으로 분석하는 데 큰 도움이 됩니다.
안녕하세요.
재료공학에서 다루는 XRD는 주로 재료의 결정 구조를 분석하는 데 활용됩니다. 어떠한 상으로 이루어 져 있나를 판별하죠. X선으로 재료를 비추어 회절 패턴을 측정하여, 원자 배열 및 격자 상수를 파악합니다. SEM의 경우는 주사 전자현미경으로 샘플에서 고해상도의 이미지를 추출합니다. 이는 고전압에서 발생한 전자빔을 샘플 표면에 주사하여 상호작용을 통해 2차 전자와 반사 전자를 생성하고 이를 수집하여 이미지를 형성합니다.