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Doctor of Public Health 전상훈입니다

Doctor of Public Health 전상훈입니다

전상훈 전문가
을지대학교
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Q.  일반화학 증기압 개념에 대해 도와주세요
안녕하세요. '고체와 액체 사이의 상평형'은 고체와 액체 상태가 동시에 존재하며, 이 두 상태 사이에서 물질의 상태 변화가 서로 균형을 이루는 상황을 말합니다. 이는 고체가 액체로 변환되는 속도(용융)와 액체가 고체로 변환되는 속도(응고)가 정확히 같을 때 발생합니다. 상평형 상태에서는 고체와 액체가 동시에 존재할 수 있으며, 이러한 상황은 특정 온도와 압력에서만 발생합니다. 이 온도와 압력은 해당 물질의 녹는점(melting point)입니다. 상평형 상태는 동적인 균형 상태로, 외부에서 보기에는 변화가 없어 보이지만, 미시적인 수준에서는 지속적으로 물질의 상태 변환이 일어나고 있습니다. 따라서 '고체와 액체의 상평형'은 '고체와 액체가 공존한다'와 같으며, 이는 '용융되는 속도와 응고되는 속도가 같다'는 의미로 해석됩니다.
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Q.  일반화학 증기압 개념에 대해 알려주세요2
안녕하세요. '고체와 액체 사이의 상평형(solid-liquid phase equilibrium)'은 고체 상태와 액체 상태가 동시에 존재하며, 두 상태 사이의 변환 속도가 서로 상쇄되어 동적 균형 상태에 이르렀음을 의미합니다. 바꿔이야기 하면, 고체가 액체로 변하는 용융(melting)의 속도와 액체가 고체로 변하는 응고(freezing)의 속도가 정확히 같아지는 상황을 설명합니다. 이러한 상평형 상태에서는, 어느 한쪽으로의 변환이 우세하지 않기 때문에, 물질은 양쪽 상태를 동시에 유지할 수 있습니다. 이를 '고체와 액체가 공존한다' 라고 표현하는 것이며, 이는 특정 조건(온도와 압력) 하에서 물질의 두 상태가 안정적으로 존재할 수 있음을 나타냅니다. 상평형은 동적인 개념으로, 외부에서 볼 때는 아무런 변화가 없어 보이지만, 미시적 수준에서는 계속적으로 상 변환이 일어나고 있는 상태입니다. 따라서 '고체와 액체의 상평형'은 '고체와 액체가 공존한다'는 의미와 같으며, 이는 '용융되는 속도와 응고되는 속도가 같다'와 동일한 뜻으로 해석됩니다.
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Q.  일반화학 증기압 개념에 대해 알려주세요3
안녕하세요. 0°C보다 낮은 온도에서 얼음과 물의 증기압을 이해하는 것은 열역학 원리에 대한 정밀한 이해를 요구합니다. 특정 조건에서 얼음의 증기압이 물의 증기압보다 낮은 현상을 설명하기 위해, 이 두 상태에서의 분자 활동을 살펴보아야 합니다. 증기압은 특정 상태의 분자가 증기 상태로 이탈하는 경향을 나타냅니다. 0°C이하의 온도에서, 고체 상태인 얼음은 액체 상태인 물에 비해 움직임이 제한되어 있기 때문에 증기압이 상대적으로 낮습니다. 이러한 구조적 제약은 분자가 이탈하는 경향을 줄여 증기압을 낮춥니다. 과포화 및 불포화 상태에 대해 설명할 때, 과포화는 얼음의 증기압이 주어진 조건에서의 평형 증기압을 초과하는 상태를 의미합니다. 이는 실제로 시스템이 응축 현상을 겪을 수 있는 잠재력을 가지고 있음을 의미합니다. 즉, 증기가 과도하게 존재하여 직접 고체 상태로 전환될 수 있습니다. 반면, 물의 증기압이 0°C 이하에서 포화 증기압보다 낮은 '불포화' 상태를 가질 때, 이는 물이 증발 경향이 있음을 나타냅니다. 열역학적 관점에서, 이 불일치는 물이 증발하여 증기압을 증가시키려는 경향이 있음을 의미합니다. 이 과정은 물의 증기압이 주변 환경의 증기압과 일치할 때까지 계속됩니다. 이 지점에서 중요한 것은 0°C 이하의 온도에서, 물의 증기압이 얼음의 증기압과 평형 증기압 사이에 위치할 경우, 시스템은 동적으로 평형을 추구합니다. 이 균형 추구는 물이 증발하는 것을 촉진하는데, 이는 상대적으로 이동성이 높은 액체 상태가 주변 환경의 열역학적 잠재력에 맞추어 자신의 증기압을 조정하려고 시도하기 때문입니다. 이러한 미묘한 행동은 상태 변화와 안정성을 지배하는 분자 동역학과 열역학 원리의 복잡한 균형을 강조합니다.
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Q.  일반화학 금속결정에 대한 개념 질문!
안녕하세요. 반도체에서 n형과 p형 도핑의 개념을 이해하기 위해서는 반도체 내에서 전자와 정공(hole)의 역할을 명확히 파악하는 것이 중요합니다. n형과 p형 반도체는 각각의 도핑 방식에 따라 전자 또는 정공이 주요 전하 운반자로 작용하는 방식이 다릅니다. n형 반도체에서는 주로 5A 그룹 원소[ex : 인(P), 비소(As)]가 4A 그룹 원소인 실리콘(Si)과 결합할 때 추가되는 도핑 과정을 거칩니다. 5A 그룹 원소는 실리콘 원자보다 한 개의 전자가 더 많습니다. 따라서 이 추가된 전자는 실리콘 격자 내에서 자유롭게 움직일 수 있으며, 이로 인해 전기전도성이 증가합니다. n형 반도체에서는 이 추가 전자가 전도성을 높이는 주된 요소로 작용합니다. p형 반도체는 3A 그룹 원소 [ex : 보론(B), 갈륨(Ga)]를 실리콘과 결합시켜 도핑하는 경우입니다. 3A 그룹 원소는 실리콘 원자보다 한 개의 전자가 적습니다. 이 경우, 실리콘 격자에서는 전자가 부족한 상태가 되며, 이 부족한 전자 자리, 즉 '홀'이 생성됩니다. 이 홀은 인근의 전자가 이동하여 채울 수 있는 '가상의 양전하'로 작용하며, 이동하는 전자마다 새로운 홀이 생성되어 전기적 전도가 이루어집니다. n형 반도체에서 말하는 '전자가 남는다'는 표현은 실제로 추가된 전자가 자유 전자로서 전도성에 기여한다는 의미입니다. 반면, p형 반도체에서 '홀이 생긴다'는 표현은 전자가 부족하여 생성된 가상의 양전하가 전도성에 기여한다는 의미입니다. 홀은 전자가 한 위치에서 다른 위치로 이동할 때마다 새로운 위치에 생성되는 것이기 때문에, 이를 전자가 '남는다'고 표현하지 않습니다. 실리콘 자체에 대한 도핑 효과를 이해할 때, 실리콘은 기본적으로 중성이지만 도핑된 원소에 따라 전자 또는 홀이 발생하는 방식이 달라집니다. 따라서 p형에서는 실리콘 원자 자체에 홀이 생기는 것이 아니라, 도핑된 3A 그룹 원소로 인해 전체적으로 전자가 부족해져 홀이 생성되는 것입니다.
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Q.  일반화학 금속결정에 대한 개념 질문2
안녕하세요. 일전 답변에 대한 추가 질문 댓글로 달아드렸어요. 조금 늦어서 죄송합니다. 다시 본론으로 돌아오면..단위세포(unit cell) 내 구성입자의 개수를 셀 때, 입자의 위치에 따라 그 계수가 달라집니다. 입자가 단위세포의 정중앙에 위치할 경우, 이 입자는 단위세포에 완전히 포함되어 있으므로 구성입자의 개수를 1개로 계산합니다. 이는 해당 입자가 다른 단위세포와 공유되지 않고 오직 한 단위세포에만 속해 있기 때문입니다. 단위세포를 구성하는 입자의 위치와 그에 따른 계수는 격자 구조의 정의와 규칙에 따라 다릅니다. 예컨데, 입자가 단위세포의 각 모서리에 위치할 경우, 이 입자는 인접한 여덟 개의 단위세포에 의해 공유됩니다. 따라서 각 단위세포는 모서리에 있는 입자를 1/8만큼만 계산합니다. 마찬가지로, 입자가 면의 중심에 위치하는 경우, 이는 네 개의 단위세포에 의해 공유되므로 각 단위세포에서는 입자를 1/4만큼 계산합니다. 정리하자면, 입자가 단위세포의 중앙에 완전히 포함되어 있는 경우, 그 입자는 해당 단위세포의 구성입자로서 전체 1개로 계산됩니다.
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